Jobin YvonNanoLog 近紅外熒光光譜儀
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NanoLog 近紅外熒光光譜儀
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NanoLogTM近紅外熒光光譜儀
NanoLog系列熒光光譜儀專門(mén)為納米技術(shù)和納米材料前沿研究設(shè)計(jì)的，可以提供紅外熒光快速測(cè)量系統(tǒng)。其模塊化的配置和功能滿足您專一的和全面的要求。標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器配置為800nm-1700nm的CCD，也可通過(guò)選取配置延伸至2200nm的紅外區(qū)和紫外、近紅外區(qū)。
知名的NanoSizerTM軟件作為標(biāo)準(zhǔn)配置；
● PL mapping Characterization of SWCNTs
● Raman Characterization of SWCNTs
● Optical Absorption of SWCNTs
1. 隨機(jī)配置的可更新單壁碳納米管數(shù)據(jù)庫(kù)提供半導(dǎo)體型SWCNTs的分類。
2. 專利的表面三維數(shù)據(jù)擬合技術(shù)，提供樣品中單壁碳納米管的分類和含量比例；
最新添加的可選Raman-NanoLog方案，可以在熒光測(cè)量同時(shí)獲得Raman信息。
3. 可選的透射吸收附件，可用于吸光度測(cè)量，同時(shí)用于再吸收的校正。包括金屬型的SWCNT。
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