Park Systems XE-70 原子力顯微鏡

    考慮到眾多預(yù)算有限用戶對(duì)高性能AFM的需求,Park Systems精心設(shè)計(jì)并推出了XE-70這款經(jīng)濟(jì)型高性能AFM。XE-70果斷放棄了部分成本較高的調(diào)節(jié)馬達(dá)，堅(jiān)決保留了所有XE系列產(chǎn)品的創(chuàng)新技術(shù)，并保證該款機(jī)型可與XE系列產(chǎn)品的各種擴(kuò)展功能組件和選配件完全兼容。

技術(shù)參數(shù)(機(jī)械部分)：
1. XY掃描器：50µm×50µm（閉環(huán)），可選配100µm×100 µm（閉環(huán)）
2. Z掃描器：12µm (可選配25µm)
3. 水平度：50µm線掃描垂直偏差不超過(guò)1nm
4.  XY和Z掃描器的正交性：1.0o
5. 樣品臺(tái)移動(dòng)范圍：25mm×25mm（X/Y），27.5mm (Z)
6. 樣品尺寸：100mm×100mm
7. 光學(xué)觀察：垂直光路設(shè)計(jì)，可直接觀察微懸臂和樣品

技術(shù)參數(shù)(電子部分)
1. 微處理器：600MHz，4800MIPS DSP
2. 模數(shù)/數(shù)模：16位，500kHz采樣頻率
3. 圖像采集：同步自動(dòng)采集16幅圖像，分辨率高達(dá)4096×4096像素
4. 通訊方式：采用基于TCP/IP協(xié)議的通訊方式與計(jì)算機(jī)聯(lián)接
5. 符合CE認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)工作模式：
. 真正非接觸模式(True non-contact mode)
. 接觸模式(contact mode)
. 相位模式(phase imaging)
. 橫向力模式(LFM)

擴(kuò)展工作模式：：
. 力測(cè)量（Force measurements）
. 導(dǎo)電（Conductive AFM）
. 電力（Electric Force）
. 電子 (Electrical)
. 磁性 (Magnetical)
. 機(jī)械 (Mechanical)
. 熱 (Thermal)

主要特點(diǎn)：
一、計(jì)量精確
XE系列AFM徹底消除了球面誤差，因而具備了實(shí)現(xiàn)精確納米計(jì)量的能力。
二、掃描器線形度高，直角正交
XE系列AFM采用了柔性掃描器最大限度減小了X和Y掃描運(yùn)動(dòng)的交叉耦合，并且通過(guò)位移傳感器及時(shí)進(jìn)行反饋控制，這就有效保證了掃描的準(zhǔn)確度和精度。
三、非接觸式掃描
可真正實(shí)現(xiàn)非接觸式掃描是Park AFM最顯著的技術(shù)優(yōu)勢(shì)。采用這一模式掃描時(shí)，針尖和樣品間距可以保持在幾個(gè)納米，在避免針尖磨損的同時(shí)提高了成像質(zhì)量。
四、CrN樣品測(cè)試結(jié)果
CrN樣品具有點(diǎn)狀尖銳的特點(diǎn)，是常用的AFM探針性能測(cè)試樣品。如采用輕敲模式進(jìn)行掃描，10次后圖像質(zhì)量就因針尖磨損而明顯下降。在非接觸掃描實(shí)驗(yàn)中，掃描100次后圖像細(xì)節(jié)依然清晰，證明針尖沒(méi)有受到損傷。