XE-NSOM是Park Systems專為高級(jí)光學(xué)研究而精心設(shè)計(jì)的一款專業(yè)產(chǎn)品，該儀器具備近場掃描光學(xué)顯微鏡(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光譜儀 (Raman Spectrometry)和共聚焦顯微鏡（Confocal Microscopy）功能。XE-NSOM 為此類光學(xué)實(shí)驗(yàn)提供了一整套性能可靠功能齊全的研究檢測系統(tǒng)。

技術(shù)參數(shù)(機(jī)械部分)：
1.  XY掃描器：100µm×100µm（閉環(huán)）
2.  Z掃描器：12µm (可選配25µm)
3.  水平度：100µm線掃描垂直偏差不超過2nm
4.  樣品臺(tái)移動(dòng)范圍：4mm（X/Y），27.5mm (Z)
5.  成像方法： AFM, NSOM
6.  光學(xué)觀察：垂直光路設(shè)計(jì)，可直接觀察微懸臂和樣品

技術(shù)參數(shù)(NSOM部分)：
1.  NSOM激光光譜：400~900nm
2.  可根據(jù)透射或反射NSOM測量要求選用有孔或無孔微探針
3.  光子檢測：APD 或PMT

技術(shù)參數(shù)(電子部分)
1. 微處理器：600MHz，4800MIPS DSP

2. 模數(shù)/數(shù)模：16位，500kHz采樣頻率

3. 圖像采集：同步自動(dòng)采集16幅圖像，分辨率高達(dá)4096×4096像素

4. 通訊方式：采用基于TCP/IP協(xié)議的通訊方式與計(jì)算機(jī)聯(lián)接

5. 符合CE認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)
主要特點(diǎn)：

專業(yè)NSOM和Raman-AFM測量系統(tǒng)
一、 原子力顯微鏡和光學(xué)測量的完美結(jié)合
二、 科學(xué)的光學(xué)設(shè)計(jì)提供了更寬的觀測角度
三、 多功能的平臺(tái)可滿足反射和透射測量要求
四、 適宜光子檢測的便捷式光軸調(diào)節(jié)系統(tǒng)
五、 便于產(chǎn)品升級(jí)的模塊化設(shè)計(jì)思想