Sartorius賽多利斯M-Pact精密|分析天平
M-class天平是專為實驗室和學(xué)校初次使用天平的用戶而設(shè)計。各種型號，從用于自然科學(xué)研究的便攜式精密天平，到自動校準(zhǔn)的高精度分析天平，一應(yīng)俱全
- 賽多利斯稱重技術(shù)，如快速測量結(jié)果和賽多利斯非凡的可靠性
- 質(zhì)量好，性價比較高
- 結(jié)合實際的設(shè)計，即使是天平的初次使用者，也可高效、無誤地使用該天平進(jìn)行工作
- 量程最大6,200 g
- 分辨率最大0.1 mg
- 自動內(nèi)校
- 較大稱量平臺
賽多利斯
