天光PM-1平面平晶
平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。
|
平面直徑d(mm)
|
基本參數(shù)
|
|
1級
|
價格
|
2級
|
|
d范圍內(nèi)
|
2/3d范圍內(nèi)
|
d范圍內(nèi)
|
2/3d范圍內(nèi)
|
|
30
|
0.03
|
----
|
275
|
0.1
|
0.05
|
|
45
|
325
|
|
60
|
375
|
|
80
|
0.05
|
0.03
|
575
|
|
|
|
100
|
1125
|
|
150
|
5000
|
|
200
|
0.08
|
0.05
|
9200
|
0.12
|
0.06
|
|
250
|
0.1
|
0.05
|
18400
|
0.15
|
0.08
|
|
300
|
0.15
|
0.09
|
55000
|
0.2
|
0.1
|