天光PX-1平行平晶
*平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。
*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列，每個(gè)系列各分六組，每組四塊。
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組別
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兩工作面的平行度
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工作面的平面度
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2/3d范圍內(nèi)的平面度
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價(jià)格
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I（0-25）
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0.6
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0.1
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0.05
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750
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II（25-50）
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0.6
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0.1
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0.05
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1000
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III（50-75）
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0.8
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0.1
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0.05
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1375
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IV（75-100）
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1.0
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0.1
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0.05
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1750
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