華豐minitest700涂層測厚儀
MINITEST 700系列涂層測厚儀及SIDSP
新的MINITEST 700系列涂層測厚儀，加強(qiáng)了EPK在全球涂層測厚市場的領(lǐng)導(dǎo)地位.
有了新的SIDSP F型探頭（測量鐵基體）和N型探頭（測量非鐵基體），您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價(jià)值和成功的關(guān)鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。
增加了測量速度設(shè)置選項(xiàng)
MINITEST 700可以讓您輕松變換測量需求。在對(duì)精度要求不高的條件下，您可以短時(shí)間測量大量數(shù)值；也可以只測量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測量值超過您所設(shè)定的極限值時(shí)，儀器會(huì)報(bào)警，保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。
使用簡單方便
MINITEST 700系列涂層測厚儀按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求：如果您想單手測量，可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號(hào)都配有一個(gè)超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。
預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和金錢
所有MINITEST 700系列涂層測厚儀探頭都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和金錢，儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)和3點(diǎn)校準(zhǔn)。另外，還有針對(duì)不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)全球銷售需要，MINITEST 700滿足各種國際標(biāo)準(zhǔn)：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。
MINITEST 700系列涂層測厚儀優(yōu)點(diǎn)一覽：
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加精確
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件
探頭
特性 F1.5， N0.7，F(xiàn)N1.5 F2 F5，N2.5，F(xiàn)N5 F15
F N F F N F
測量范圍 0-1.5mm 0-0.7mm 0-2mm 0-5mm 0-2.5mm 0-15mm
使用范圍 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 粗糙表面 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 厚涂層
測量原理 磁感應(yīng) 電渦流 磁感應(yīng) 磁感應(yīng) 電渦流 磁感應(yīng)
信號(hào)處理 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP）
精確度 ±（1μm+0.75%讀值） ±（1.5μm+0.75%讀值） ±（5μm+0.75%讀值）
重復(fù)性 ±（0.5μm+0.5%讀值） ±（0.8μm+0.5%讀值） ±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率 0.05μm 0.1μm 1μm
最小曲率半徑（凸） 1.0mm 1.5mm 5mm
最小曲率半徑（凹，外置探頭） 7.5mm 10mm 25mm
最小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） 30mm 30mm 30mm
最小測量面積 Φ5mm Φ10mm Φ25mm
最小基體厚度 0.3mm 40μm 0.5mm 0.5mm 40μm 1mm
連續(xù)模式下測量速度 每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下最大測量速度 每分鐘70個(gè)讀數(shù)