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品牌：Persee普析
全反射X熒光（TXRF）分析技術(shù)是近年來才發(fā)展起來的多元素同時(shí)分析技術(shù)。TXRF利用全反射技術(shù)，使樣品熒光的雜散本底比X熒光能量色散譜儀（EDXRF）本底降低約四個(gè)量級，從而大大提高了能量分辨率和靈敏度，避免了XRF測量中通常遇到的本底增強(qiáng)或減弱效應(yīng)；同時(shí)TXRF技術(shù)又繼承了EDXRF方法的優(yōu)越性。它突出的優(yōu)點(diǎn)是檢出限低（pg、ng/mL級以下）、用樣量少（μL、ng級）、準(zhǔn)確度高（可用內(nèi)標(biāo)法）、簡便、快速，而且可進(jìn)行無損分析，成為一種不可替代的全新的元素分析方法。國際上每兩年召開一次TXRF分析技術(shù)國際討論會(huì)，該技術(shù)被譽(yù)為在分析領(lǐng)域是最具有競爭力的分析手段、在原子譜儀領(lǐng)域內(nèi)處于領(lǐng)先地位。
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X射線熒光（XRF）分析技術(shù)是測定由初級X射線激發(fā)樣品時(shí)所產(chǎn)生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實(shí)現(xiàn)固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時(shí)測定，檢出限在mg/kg 量級范圍內(nèi)，制樣方法簡單，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、材料、環(huán)境、冶金樣品的常規(guī)分析。XRF作為一種無損檢測技術(shù)，可以直接應(yīng)用于現(xiàn)場、原位分析，在材料分析領(lǐng)域占有重要地位。
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X射線熒光（XRF）分析技術(shù)是測定由初級X射線激發(fā)樣品時(shí)所產(chǎn)生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實(shí)現(xiàn)固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時(shí)測定，檢出限在mg/kg 量級范圍內(nèi)，制樣方法簡單，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、材料、環(huán)境、冶金樣品的常規(guī)分析。XRF作為一種無損檢測技術(shù)，可以直接應(yīng)用于現(xiàn)場、原位分析，在材料分析領(lǐng)域占有重要地位。
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X射線衍射儀是對晶體物質(zhì)和材料的組成和原子級結(jié)構(gòu)進(jìn)行研究和鑒定的分析儀器。
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原子熒光光度計(jì)是一款極具特色的分析儀器，具有靈敏度高、多元素同時(shí)測量分析、譜線簡單、曲線線性好、線性范圍寬等優(yōu)點(diǎn)。適用于As、Se、Pb、Bi、Te、Sn、Sb、Hg、Cd、Zn、Ge等十一種元素的日常痕量分析，可廣泛應(yīng)用于食品衛(wèi)生、環(huán)境監(jiān)測、化妝品檢驗(yàn)、醫(yī)藥衛(wèi)生、農(nóng)業(yè)環(huán)保、地質(zhì)冶金等領(lǐng)域。
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作為專業(yè)的分析儀器制造企業(yè)，北京普析通用儀器有限責(zé)任公司長期致力于原子吸收分光光度計(jì)的研制開發(fā)。
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原子吸收光譜儀作為測定痕量金屬元素的重要手段，具有靈敏度高、準(zhǔn)確度好、分析速度快等優(yōu)點(diǎn)。在地質(zhì)、冶金、材料、醫(yī)藥、環(huán)境、化學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，現(xiàn)正成為一種非常重要的儀器分析方法。
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北京普析通用儀器有限責(zé)任公司作為分析儀器的專業(yè)制造企業(yè)，多年的紫外分光光度計(jì)設(shè)計(jì)和制造經(jīng)驗(yàn)在TU-19系列上得到了更充分地體現(xiàn)，TU-1901、TU-1900紫外可見分光光度計(jì)以其出色的技術(shù)指標(biāo)穩(wěn)定、可靠的工作特性、友好直觀的顯示界面和流暢的人機(jī)對話操作，成功實(shí)現(xiàn)了超高精度和可靠性測量的嚴(yán)格要求，能極大地滿足最專業(yè)用戶分析工作需求。
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北京普析通用儀器有限責(zé)任公司作為分析儀器的專業(yè)制造企業(yè)，多年紫外分光光度計(jì)設(shè)計(jì)和制造經(jīng)驗(yàn)在TU-1810系列上得到了更充分的體現(xiàn)。
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北京普析通用儀器有限責(zé)任公司一流的光譜儀器制造技術(shù)在T6系列產(chǎn)品上得到了最新的展現(xiàn)。高智能化的模塊式設(shè)計(jì)，確保儀器上乘的質(zhì)量、出色的技術(shù)指標(biāo)與穩(wěn)定的工作性能，滿足您多層次的分析應(yīng)用需求。
