Aquila 英國NKD8000 高級薄膜測定系統(tǒng)

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NKD-8000系統(tǒng)綜合了光學(xué)、電子學(xué)和高級分析軟件，是目前測定多層薄膜和基片的折射率、吸收系數(shù)和厚度最精確、最易用的系統(tǒng)。NKD-8000系列產(chǎn)品具有全自動、可同時測定透過光譜和反射光譜，入射光角度從0°到90°連續(xù)改變。對分光光譜儀而言，這是一項前所未有的新功能，使得NKD-8000適用于最具挑戰(zhàn)性的光學(xué)測量。對多層薄膜和基片的n、k和d的測定變得準(zhǔn)確、快捷