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品牌：Oxford牛津
ITER類(lèi)型低損耗Nb3Sn超導(dǎo)線材是OST用內(nèi)錫法給ITER項(xiàng)目生產(chǎn)的線材。線材由鈮絲和錫為中心，用鉭包裝阻止擴(kuò)散，里面是高RRR銅作為夾層。在制造完成后，在表面鍍鉻。典型的一鏤線材直徑為0.8毫米，并有2微米厚度的鉻涂層。
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此類(lèi)高場(chǎng)下最好性能的鈮三錫線材是我公司通過(guò)十年不懈的努力而取得的。在20特斯拉磁場(chǎng)下，此線材比通常的鈮三錫線材的臨界電流高出3倍。此線材使得二個(gè)世界記錄 - 950MHz核磁共振磁體，和16T雙極磁體的產(chǎn)生成為可能。
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OST對(duì)于細(xì)絲徑鈮鈦線生產(chǎn)具有悠久的歷史，其中包括SSC和RHIC項(xiàng)目。我公司給布魯克海文國(guó)家實(shí)驗(yàn)室RHIC的計(jì)劃提供了所有的60噸的線材，使其能夠按計(jì)劃于1994年完成工作。
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鈮鈦/銅矩陣鈮鈦復(fù)合導(dǎo)線提供了三十年的超導(dǎo)磁體產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)。此線是成本低，相當(dāng)牢固，產(chǎn)品包含圓形，矩形，單核心，復(fù)絲，銅超比從7:1到1:1配置和直徑從數(shù)毫米到0.1毫米廣泛范圍。
鈮鈦/銅矩陣線是用于的磁場(chǎng)強(qiáng)度低于10 - 11特斯拉的磁體。數(shù)據(jù)表給出了絲徑為54，銅超比為1.35的數(shù)據(jù)，如上所述，我們可以提供多種此類(lèi)線材，如有任何要求，歡迎來(lái)電垂詢(xún)。
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HelioxAC-V是桌面化的無(wú)液氦系統(tǒng)， 可以把較大的樣品冷卻到300mk,保持時(shí)間在50小時(shí)以上。
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HelioxVT可以使用在任意的牛津儀器生產(chǎn)的變溫插件中（VTI），通路直徑為30mm或者50mm。由于他采用了VTI的冷氣體環(huán)境，所以插件中無(wú)需1K壺
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HelioxVL系統(tǒng)是樣品在真空中的氦3恒溫器，性能相當(dāng)優(yōu)異，可以在低于245mK保持超過(guò)90小時(shí)。
該系統(tǒng)通過(guò)先進(jìn)的吸附泵技術(shù)以及特殊設(shè)計(jì)的1K池和氦三壺，就可以達(dá)到基溫。
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大的溫度調(diào)節(jié)范圍：從300mK到30K，使得該設(shè)備可以適用于廣泛的應(yīng)用
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全反射X熒光（TXRF）分析技術(shù)是近年來(lái)才發(fā)展起來(lái)的多元素同時(shí)分析技術(shù)。TXRF利用全反射技術(shù)，使樣品熒光的雜散本底比X熒光能量色散譜儀（EDXRF）本底降低約四個(gè)量級(jí)，從而大大提高了能量分辨率和靈敏度，避免了XRF測(cè)量中通常遇到的本底增強(qiáng)或減弱效應(yīng)；同時(shí)TXRF技術(shù)又繼承了EDXRF方法的優(yōu)越性。它突出的優(yōu)點(diǎn)是檢出限低（pg、ng/mL級(jí)以下）、用樣量少（μL、ng級(jí)）、準(zhǔn)確度高（可用內(nèi)標(biāo)法）、簡(jiǎn)便、快速，而且可進(jìn)行無(wú)損分析，成為一種不可替代的全新的元素分析方法。國(guó)際上每?jī)赡暾匍_(kāi)一次TXRF分析技術(shù)國(guó)際討論會(huì)，該技術(shù)被譽(yù)為在分析領(lǐng)域是最具有競(jìng)爭(zhēng)力的分析手段、在原子譜儀領(lǐng)域內(nèi)處于領(lǐng)先地位。
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X射線熒光（XRF）分析技術(shù)是測(cè)定由初級(jí)X射線激發(fā)樣品時(shí)所產(chǎn)生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實(shí)現(xiàn)固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類(lèi)固體，液體樣品中主，次多元素同時(shí)測(cè)定，檢出限在mg/kg 量級(jí)范圍內(nèi)，制樣方法簡(jiǎn)單，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、材料、環(huán)境、冶金樣品的常規(guī)分析。XRF作為一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，可以直接應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)、原位分析，在材料分析領(lǐng)域占有重要地位。
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X射線熒光（XRF）分析技術(shù)是測(cè)定由初級(jí)X射線激發(fā)樣品時(shí)所產(chǎn)生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實(shí)現(xiàn)固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類(lèi)固體，液體樣品中主，次多元素同時(shí)測(cè)定，檢出限在mg/kg 量級(jí)范圍內(nèi)，制樣方法簡(jiǎn)單，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、材料、環(huán)境、冶金樣品的常規(guī)分析。XRF作為一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，可以直接應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)、原位分析，在材料分析領(lǐng)域占有重要地位。
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原子熒光光度計(jì)是一款極具特色的分析儀器，具有靈敏度高、多元素同時(shí)測(cè)量分析、譜線簡(jiǎn)單、曲線線性好、線性范圍寬等優(yōu)點(diǎn)。適用于As、Se、Pb、Bi、Te、Sn、Sb、Hg、Cd、Zn、Ge等十一種元素的日常痕量分析，可廣泛應(yīng)用于食品衛(wèi)生、環(huán)境監(jiān)測(cè)、化妝品檢驗(yàn)、醫(yī)藥衛(wèi)生、農(nóng)業(yè)環(huán)保、地質(zhì)冶金等領(lǐng)域。
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