Oxford牛津CMI900(X熒光鍍層測(cè)厚儀)

CMI900 是一款性?xún)r(jià)比極高的臺(tái)式 X 射線熒光光譜儀，應(yīng)用于涂鍍層厚度測(cè)量及材料成分分析。

高性能X射線熒光光譜儀

• 快速精確的分析：正比計(jì)數(shù)探測(cè)器和50瓦微焦X射線管，大大提高了靈敏度
• 簡(jiǎn)單的元素區(qū)分：二次光束過(guò)濾器可以分離重疊元素
• 性能優(yōu)化，測(cè)量元素范圍廣： 可預(yù)設(shè)參數(shù)
  CMI900 提供800多種預(yù)設(shè)應(yīng)用參數(shù)/方法
• 杰出的長(zhǎng)期穩(wěn)定性：
  • 自動(dòng)熱補(bǔ)償測(cè)量?jī)x器溫度，糾正變化，提供穩(wěn)定的結(jié)果
  • 簡(jiǎn)單快速的光譜校準(zhǔn)，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正

堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)

• 可以在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上操作
• 堅(jiān)固的工業(yè)設(shè)計(jì)
• 經(jīng)行業(yè)驗(yàn)證的技術(shù)，在全球銷(xiāo)售量超過(guò)3000臺(tái)
• 電子元件

  有效調(diào)整生產(chǎn)過(guò)程，從而提高生產(chǎn)力

  • 確保元件可靠性
    • 測(cè)量焊料合金成份和鍍層厚度
  • 優(yōu)化質(zhì)量控制，從而確保產(chǎn)品生命周期
    • 分析導(dǎo)電性鍍層金和鈀的厚度
    • 測(cè)量電腦硬盤(pán)上的NiP層厚度